冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)用於測試結構材料(liao)或復合材(cai)料，經極高(gao)溫(wen)及(ji)極低(di)溫(wen)的連(lian)續(xu)環境下所能(neng)忍受(shou)的程(cheng)度(du)，在短(duan)時間內(nei)測試材料、產(chan)品(pin)因熱脹冷(leng)縮所引起的化(hua)學(xue)變化(hua)或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)廣泛(fan)適(shi)用於金(jin)屬、塑料(liao)、橡(xiang)膠、電(dian)纜(lan)電(dian)線(xian)等行(xing)業(ye)品(pin)質(zhi)檢(jian)測試驗(yan)，可作(zuo)為(wei)產品(pin)改(gai)進(jin)的依(yi)據(ju)或參考。冷熱沖擊試驗(yan)機分別(bie)有二(er)槽(cao)式及(ji)三(san)槽(cao)式冷熱沖擊試驗(yan)機。
兩(liang)箱(xiang)式冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)概述：
二(er)箱(xiang)式溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)，顧名思義(yi)就是(shi)只(zhi)有二(er)個工(gong)作(zuo)室(shi)，壹(yi)個(ge)是(shi)高(gao)溫(wen)區壹(yi)個(ge)是(shi)低(di)溫(wen)區，沖擊工(gong)作(zuo)時，只(zhi)需要(yao)通(tong)過吊欄(lan)將(jiang)測試件移(yi)動(dong)到相(xiang)對(dui)的工(gong)作(zuo)室(shi)便(bian)可，能量(liang)損耗相對(dui)來(lai)說是(shi)較(jiao)少(shao)的，與三(san)槽(cao)式相比(bi)，配置小(xiao)，成(cheng)本低(di)，故(gu)障(zhang)率(lv)相應的也(ye)偏低(di)。
三(san)箱(xiang)式冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)概述：
兩(liang)箱(xiang)式冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)和三(san)箱(xiang)式冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)的四(si)大區別：
壹(yi)、兩(liang)種溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)的曲(qu)線(xian)：
a. 兩(liang)箱(xiang)冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)，沒有常(chang)溫(wen)停留(liu)階段，只(zhi)有高(gao)溫(wen)及(ji)低(di)溫(wen)停留(liu)，高(gao)低(di)溫(wen)停留(liu)階段初期(qi)有明(ming)顯的過(guo)沖(chong)現(xian)象(xiang)。
b. 三(san)箱(xiang)冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)，有常(chang)溫(wen)停留(liu)階段，因控制原(yuan)理(li)不(bu)同(tong)，高(gao)低(di)溫(wen)及(ji)常(chang)溫(wen)停留(liu)階段類(lei)似(si)正(zheng)弦(xian)函(han)數的曲(qu)線(xian)。
二(er)、兩(liang)種溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)的功能：
1) 兩(liang)箱(xiang)冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)：兩(liang)個箱(xiang)體(ti)，高(gao)溫(wen)箱(xiang)體(ti)和(he)低(di)溫(wen)箱(xiang)體(ti)，中(zhong)間是(shi)吊籃。測試時樣品(pin)放(fang)在(zai)吊籃裏(li)，做高(gao)溫(wen)測試時吊籃提(ti)到高(gao)溫(wen)箱(xiang)，低(di)溫(wen)做低(di)溫(wen)試驗(yan)。溫(wen)速(su)度(du)快；結(jie)構緊湊(cou)，壹(yi)般(ban)容(rong)積(ji)較(jiao)小(xiao)；轉換時間短(duan)，試(shi)驗(yan)時產(chan)品(pin)需(xu)要(yao)移(yi)動(dong)；可作(zuo)為(wei)熱沖擊箱(xiang)使用又可(ke)以(yi)作(zuo)單獨的高(gao)溫(wen)箱(xiang)或單獨的低(di)溫(wen)箱(xiang)使用。
2) 三(san)箱(xiang)冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)：三(san)個(ge)箱(xiang)體(ti)，高(gao)溫(wen)箱(xiang)體(ti)、放(fang)置樣品(pin)的箱(xiang)體(ti)及(ji)低(di)溫(wen)箱(xiang)體(ti)，測試高(gao)溫(wen)時，高(gao)溫(wen)箱(xiang)門(men)打開(kai)，低(di)溫(wen)箱(xiang)門(men)關閉(bi)。測試低(di)溫(wen)時，高(gao)溫(wen)箱(xiang)門(men)關閉(bi)，低(di)溫(wen)箱(xiang)門(men)打開(kai)；有室(shi)溫(wen)狀態，便(bian)於取放樣品(pin)；產(chan)品(pin)不(bu)移(yi)動(dong)，減少(shao)產(chan)品(pin)移(yi)動(dong)對(dui)產(chan)品(pin)造(zao)成(cheng)的影響(xiang)，可以(yi)接壹(yi)些敏(min)感電(dian)信號(hao)監測線(xian)；轉換時間比(bi)較(jiao)長(chang)。
三(san)、兩(liang)種溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)的特(te)點(dian)：
兩(liang)箱(xiang)高(gao)低(di)溫(wen)轉換時間更(geng)快(kuai)，相(xiang)對(dui)於(yu)三(san)箱(xiang)式更(geng)能(neng)考(kao)驗(yan)產品(pin)經受(shou)環境溫(wen)度瞬間變化(hua)的適(shi)應性。
四(si)、兩(liang)種溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)試驗(yan)的結(jie)構：
a. 兩(liang)箱(xiang)式溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)整體(ti)結(jie)構：
試驗(yan)箱(xiang)由(you)預熱室(shi)、預冷(leng)室(shi)、制冷系(xi)統、加(jia)熱系統、風道(dao)系統、電(dian)器(qi)控制系統組(zu)成(cheng)。預冷(leng)室(shi)位於試(shi)驗(yan)箱(xiang)後上部(bu)，預熱室(shi)位於試(shi)驗(yan)箱(xiang)前下部(bu)，制冷機給(gei)位於(yu)試(shi)驗(yan)箱(xiang)的後下部(bu)，電(dian)器(qi)控制櫃(gui)位(wei)於(yu)試(shi)驗(yan)箱(xiang)右(you)側。
b. 三(san)箱(xiang)式溫(wen)度沖擊試驗(yan)箱(xiang)整體(ti)結(jie)構：
試樣物品(pin)完(wan)全靜(jing)止(zhi)。試驗(yan)箱(xiang)由(you)預熱室(shi)、預冷(leng)室(shi)、工(gong)作(zuo)室(shi)、制冷系(xi)統、加(jia)熱系統、風道(dao)系統、電(dian)器(qi)控制系統組(zu)成(cheng)。工(gong)作(zuo)室(shi)位於試(shi)驗(yan)箱(xiang)中部，高(gao)溫(wen)室(shi)位於試(shi)驗(yan)箱(xiang)下部(bu)，低(di)溫(wen)室(shi)位於試(shi)驗(yan)箱(xiang)上部，制冷機系統位(wei)於(yu)試驗(yan)箱(xiang)的後下部(bu)，電(dian)器(qi)控制櫃(gui)位(wei)於(yu)試(shi)驗(yan)箱(xiang)右(you)側面(mian)上(shang)部。
